TEM用標準試料各種
MAGICAL
MAGICALナノ尺と称される透過型電子顕微鏡(TEM)の為の較正用リファレンススタンダードは、今日世界中でTEM較正用の最確標準とされています。又、これはギネスブックにも「世界最小の物差し」として登録されています。MAGICALナノ尺は、1990年代の中頃、世界第一級の固体物理研究所で開発され、TEMに関して次の三種の重要な較正が行えるようになりました。
● 像倍率に於ける較正
● カメラ定数の較正(回折パターンの指示)
● 像及び回折パターン回転の較正
詳細／テクニカルデータは＜こちらをご参照ください＞
| Cat No. | 品名 | 価格 |
|---|---|---|
| S1936 | MAGICAL | ¥330,000 |
非点補正／軸合せ用
S106
S106L
| Cat No. | 品名 | 価格(¥) |
|---|---|---|
| S106 | グレーティング・クロス(2160本／mm) | 18,000 |
| S106L | ラテックス球 on グレーティング・クロス(2160本／mm) | 21,000 |
解像力テスト／分子分離
S114
S128
S128B
S126
| Cat No. | 品名 | 価格(¥) |
|---|---|---|
| S114 | プラチナ／イリジウム （蒸着カーボンフィルム） | 15,000 |
| S128 | ポリスチレン ラテックス粒子 （ラテックス粒子に白金パラジウムをコーティング, φ0.216μm） | 20,000 |
| S128B | ポリスチレン ラテックス粒子 （ラテックス粒子に金をコーティング, φ0.216μm） |
|
| S126 | フェリチン試料 （4分子間隔 1.25nm） on フォルムバー／カーボンフィルム | 15,000 |
格子分解能測定用
S140
S118
S122
S136
S108
S110
S124
| Cat No. | 品名 | 価格(¥) |
|---|---|---|
| S140 | カーボングラファイト(アモルファス) 3.4Å | 15,000 |
| S118 | 塩化白金カリウム ポタシウムクロロプラチネート結晶 5.6Å | 19,000 |
| S122 | クラシドライト（アスベスト結晶） 繊維中心軸沿 0.9nm ／ 中心軸60°角 0.4nm | 15,000 |
| S136 | フタロシアニン銅結晶 格子平面状空間 1.0nm |
|
| S108 | EVAP-アルミニウムフィルム Film Thickness 300Å |
|
| S110 | EVAP-タリウムクロライドフィルム | |
| S124 | ネガティブ染色 カタラーゼ結晶 （Spacing 8.75nm,6.85nm） | 22,000 |
| Cat No. | 品名／仕様 | 価格(¥) |
|---|---|---|
| S132 | 金結晶カーボンフィルム カーボンフィルム厚: <10nm 金粒子: 5nm | 26,000 |
| Cat No. | 品名 | 価格(¥) |
|---|---|---|
| S112 | 酸化モリブデン結晶 | 15,000 |
TEM 汚染度テスト用
S142
S155
| Cat No. | 品名／仕様 | 価格(¥) |
|---|---|---|
| S142 | 金蒸着フィルム カーボンフィルム厚:<10nm 蒸着層:12Å | 24,000 |
| S155 | HVEM テスト試料 金蒸着フィルム カーボンフィルム厚:<10nm 蒸着層:100Å | 16,000 |
解像力･画質･拡大率･機械安定性試料
| Cat No. | 品名／仕様 | 価格(¥) |
|---|---|---|
| S135 | 金単結晶（High-Grade） Plane spacing 0.204/0.143/0.102nm 400mesh Gold - Film Thickness 11nm 結晶方位 <100> | 45,000 |
TEM用 X線解析標準試料
マイクログリッド(カーボン膜)に検定済みの微粒子状標準物質が散布してあります。グリッドは400メッシュで材質は通常銅ですが、必要に応じて変更可能です。セット内容はこちらをご参照ください。また、こちらのリストから選択することもできます（合計5枚から承ります)。
| Cat No. | 内容 | 価格 |
|---|---|---|
| S1980 | TEM用一般標準試料 (25枚セット) | P.O.A |
| S1981 | TEM用希土類標準試料 (14枚セット) | |
| S1980-N | リストより選択(5枚から) |
STEM用 X線解析標準試料
STEM用高純度金属箔標準試料(厚さ0.1mm／直径3mm)。セット内容はこちらをご参照ください。セット内容から種類を選択することもできます。(合計5枚から承ります。)
| Cat No. | 内容 | 価格 |
|---|---|---|
| S1982 | 金属箔標準試料(25枚セット) | P.O.A |
| S1982-N | リストより選択(5枚から) |
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X線検出器補正用グリッド
カーボンコティングされた銅箔(厚さ約60nm)を貼付したアルミニウムグリッド。
銅とアルミニウムの出すX線を解析することにより、検出器の感度を補正するための標準試料。
| Cat No. | 価格 |
|---|---|
| S149 | ¥21,000 |
AEM用NiOxテスト試料
NiOxテスト試料は、EDXやEELSの一方若しくは両方を装備した高性能分析TEMのために、その機器性能の特性評価を行うために開発されました。200mesh Mo TEMグリッド上に25nmカーボン膜、その上に55nmのニッケル酸化物の膜からなります。NiOxテスト試料は少なくとも以下の3点で有益です。
1. 購入前にTEM及びEDXシステムの評価が可能。
2. EDX検出器設置後すぐに、鏡筒の状態と検出器のアラインメントのチェックが可能。
3. システムの操作中定期的に、検出器上の着氷や炭化水素汚染のチェックが可能。
テスト試料は、TEM鏡筒にある漂遊X線と電子を計測するためのモリブデン信号を発します。NiOxフィルムには既知量の軽元素(酸素)を含み、低エネルギーX線へのEDX検出器の反応を評価するのに用いられます。EELSでは、酸素とニッケルのイオン化エッジによって、エネルギー軸の較正と、元素割合の測定が可能になります。EDXとEELSの両方を装備したTEMでは、EDXで得られた元素分析とEELSで得られた分析を直接比較することが可能です。
酸化ニッケルフィルムは極細粒多結晶体であり、TEMカメラ長の較正と中間レンズの非点収差の補正に適しています。カメラ長の計測、TEM鏡筒内の漂遊放射線量及びその主たる性質(x線と電子)の評価、EDX検出器の収集立体角評価、検出器の着氷及び炭化水素汚染評価の方法が書かれた説明書が付属されます。
| Cat No. | 価格 |
|---|---|
| S153 | ¥86,000 |
TEM X線検出器検査用グリッド
φ3mmのMnディスクが5枚入っています。Mnディスクはビームを透過せず、EDS検出器の分解能検査のため強いMnピークを与えます。
| Cat No. | 枚数 | 価格 |
|---|---|---|
| S150 | 5 | ¥64,000 |