Omniprobe(オムニプローブ)／FIB Lift-Out TEM Grid
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Omniprobe FIB Lift-Out TEM Grid
| Cat No. | ポスト数 | 厚み | 材質 | 枚数 |
|---|---|---|---|---|
| LO14-C | 3 | 30um | Cu | 100 |
| LO14-M | Mo | 25 |
| Cat No. | ポスト数 | 厚み | 材質 | 枚数 |
|---|---|---|---|---|
| LO15 | 3 | 30um | Cu | 100 |
| Cat No. | ポスト数 | 厚み | 材質 | 枚数 |
|---|---|---|---|---|
| LO16-C | 4 | 30um | Cu | 100 |
| LO16-M | Mo | 25 |
| Cat No. | ポスト数 | 厚み | 材質 | 枚数 |
|---|---|---|---|---|
| LO17 | 5 | 40um | Cu | 100 |
Omniprobe FIBグリッドボックス
Lift Out Grid用100枚収納ケース。
全体サイズ：55×51×10.7mm
穴サイズ：3.34×3.34×1.5mm(D)
LO19ASは帯電防止素材になります。
| Cat No. | 数量 |
|---|---|
| LO19 | 1 |
| LO19-1 | 10 |
| LO19AS | 1 |
| LO19AS-1 | 10 |
FIB Lift-Out グリッドボックス
FIB Lift-Out グリッド４枚を収納できます。グリッドが収納穴の中で回転するのを防ぐため、穴の深さは1.7mmと浅くつくられています。
| Cat No. | 収納数 |
|---|---|
| LO20 | 1 |
| LO20-1 | 10 |
FIB Lift-Out TEM Grid ＜Carbon＞
Carbon Gridの厚みは約70umです。ピュアカーボンでできており、EDS及び分光法のバックグラウンドが非常に低く、薄切片を取り付けるためのプラチナの結合が容易です。
グリッドサイズ 3mm、ポスト幅 (2Post)315×300μm(ノッチ)、(4Post)60×120μm, 120×190μm(ノッチ)
| Cat No. | ポスト数 | 枚数 |
|---|---|---|
| LO13-2 | 2 | 10 |
| LO13-4 | 4 |
プローブチップ
AP200/100.7 Ni Shank/W Probe Tip
材質: ニッケルシャンク及びタングステンチップ
チップ半径: 0.5um(テーパー: 13°)
| Cat No. | 入数 |
|---|---|
| LO21 | 10 |
AP200/100.7 W Probe Tip
材質: タングステン
チップ半径: <0.5um(テーパー7°-10°)
シャンク径: 0.5mm
ニードル長さ: 34mm
| Cat No. | 入数 |
|---|---|
| LO22 | 10 |
AP200/100.7 Narrow W Probe Tip
材質: タングステン
チップ半径: <0.5um(テーパー: 6°)
シャンク径: 0.5mm
ニードル長さ: 34mm
| Cat No. | 入数 |
|---|---|
| LO23 | 10 |
AP300/400 tips for in-situ tip change
材質: ステンレスシャンク及びタングステンチップ
チップ半径: 0.5um(テーパー: 8°-10°)
| Cat No. | 入数 |
|---|---|
| LO24 | 20 |
OP300/400 Keyed probe tips
材質: ステンレスシャンク及びタングステンチップ
チップ半径: 0.5um(テーパー: 6°)
ニードル径: 0.25mm
| Cat No. | 入数 |
|---|---|
| LO25 | 20 |
OP300/400 Keyed Probe Tips for FEI SDB Front Port
材質: ステンレスシャンク及びタングステンチップ
チップ半径: 0.5um(テーパー: 6°)
ニードル径: 0.25mm
| Cat No. | 入数 |
|---|---|
| LO26 | 20 |
OP300/400 Probe Tips for FEI SDB Front Port
材質: ステンレスシャンク及びタングステンチップ
チップ半径: 0.5um(テーパー: 6°)
ニードル径: 0.25mm
| Cat No. | 入数 |
|---|---|
| LO27 | 20 |
Probe Tips for AP200/250 equipped w/ ShortCut
材質: タングステン
チップ半径: <0.5um(テーパー6°)
シャンク径: 0.5mm
ニードル長さ: 19.3mm
| Cat No. | 入数 |
|---|---|
| LO28 | 10 |
FIB ピンタイプホルダー
2 FIBグリッドホルダー
| Cat No. | 仕様 |
|---|---|
| GU315 | φ12.7 × 7.8mm 専用ドライバー付 |
| GU315R | 交換用 真鍮ネジ 10ヶ |
Multiple FIBグリッドホルダー
| Cat No. | 仕様 |
|---|---|
| GU316 | 22.5 × 29 × 13.5mm φ3.2mm Pin |
2 FIBグリッド／サンプルホルダー
2つのLift Out Gridsを保持及びφ12.7mmまでの試料をピンスタブにマウントできます。
ピン径：φ3.2mm。材質：アルミ
| Cat No. | 仕様 |
|---|---|
| GU317 | 22.4×12.7×11.7mm 専用ドライバー付 |
| GU315R | 交換用 真鍮ネジ 10ヶ |
2 FIBグリッド／2 サンプルホルダー
2つのLift Out Gridsを保持及びφ12.7mmまでの2つの試料をピンスタブにマウントできます。
ピン径：φ3.2mm。材質：アルミ
| Cat No. | 仕様 |
|---|---|
| GU318 | 36.5×12.7×11.6mm 専用ドライバー付 |
| GU315R | 交換用 真鍮ネジ 10ヶ |
Multiple FIB グリッド／サンプルホルダー
複数の同じ厚さのLift Out Gridsを保持及びφ25mmまでの試料をピンスタブにマウントできます。
ピン径：φ3.2mm。材質：アルミ
| Cat No. | 仕様 |
|---|---|
| GU319 | 50×29×13.5mm |
LP 2グリッドホルダー
2つのLift Out Gridsをバネ懸架式で簡単に保持できます。
ピンサイズ：φ3.2×4mm(h)。材質：アルミ
| Cat No. | 材質 |
|---|---|
| LP10 | アルミ |
LP 2グリッド／試料ホルダー
FIB及びSEM/FIB (DualBeam/CrossBeam)用TEMグリッド／試料ホルダー。2つのLift Outグリッド及び2つの試料を保持できます。
ピンサイズ：φ3.2×8.1mm(h)。材質：アルミ
| Cat No. | 材質 |
|---|---|
| LP11 | アルミ |
LP 試料／グリッドホルダー
FIB及びSEM/FIB用TEMグリッド／試料ホルダー。2つのLift Outグリッド及び1つの試料を保持できます。
ピンサイズ：φ3.2×8.1mm(h)。材質：アルミ
| Cat No. | 材質 |
|---|---|
| LP12 | アルミ |
窒化シリコンメンブレン リフトアウトグリッド
Silicon Nitride Lift-Out TEM Windows
窒化シリコンメンブレン リフトアウトグリッド ＜Silicon Nitride Lift-Out Grid＞
● flip-stage SEM/FIBまたはTEM試料ホルダーに適合します。
● 窒化シリコンメンブレン リフトアウトグリッドは、100×500umのウィンドウに沿って大きい堅牢な窒化シリコン膜(厚さ400nm)が貼られており、試料調整のために簡単にアクセスできるエッヂを提供します。ストレスの少ないSiN膜は、FIBによって電子透過可能な厚さ(50nm厚以下)に加工ができます。
● 電気的・熱的分析のための厚さ200nmの金電極を備えたタイプが選択できます。
SN100-LFT
SN100-LFT-AU
| Cat No. | 金電極 | フレーム厚 | メンブレン厚 | ウィンドウ サイズ | 枚数 |
|---|---|---|---|---|---|
| SN100-LFT | N/A | 100um | 400nm | 100×500um | 10 |
| SN100-LFT-AU | 有り |